金屬電鍍層膜厚分析儀:鍍層膜厚是電鍍產(chǎn)品的重要技術(shù)指標(biāo),關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量以及生產(chǎn)成本。 Thick800A鍍層測厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗,專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款膜厚測試儀器,配備移動平臺,可全自動軟件操作,并進行多點測試,檢測結(jié)果更加精準(zhǔn)。
鍍層厚度檢測儀,膜厚儀:Think600鍍層測厚儀使用高效而實用的正比計數(shù)盒和電制冷探測器,以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求,且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計,使儀器操作更人性化、更方便。
膜厚儀,鍍層測厚檢測儀:若一個電子由軌道游離,則其他能階的電子會自然的跳至他的位置,以達到穩(wěn)定的狀態(tài),此種不同能階轉(zhuǎn)換的過程可釋放出能量,即X-射線。因為各元素的每一個原子的能階均不同,所以每一元素軌道間的能階差也不同相同。
金屬電鍍層厚度分析儀:鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等(在有關(guān)國家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層(coating))。
X射線無損鍍層厚度測試儀:X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線,它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息,通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學(xué)的知識,對每一種化學(xué)元素的原子來說,都有其特定的能級結(jié)構(gòu),其核外電子都以其*的能量在各自的固定軌道上運行。內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,成為自由電子,這時原子被激發(fā)了,
鍍層厚度測試儀,測厚儀:滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求、φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求、高精度移動平臺可定位測試點,重復(fù)定位精度小于0.005mm、采用高度定位激光,可自動定位測試高度、定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊、鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)點擊的位置就是被測點、高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)、良好的射線屏蔽作用、測試口高度敏感性傳感器保護