膜厚測(cè)試儀的常見故障及解決方法分享

　　膜厚測(cè)試儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線的強(qiáng)度來(lái)。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。

　　今天小編要與大家分享的是膜厚測(cè)試儀的常見故障及解決方法：

　　1、示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定

　　致使儀器示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的要素主要是來(lái)自工件本身的資料和構(gòu)造的特別性，再者，被測(cè)件的外表粗糙度和附著物也是致使儀器示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的重要要素，其探頭對(duì)那些阻礙與覆蓋層外表緊密觸摸的附著物質(zhì)靈敏。有必要確保探頭與覆蓋層外表直觸摸摸。因而，解決此種毛病的關(guān)鍵即是：測(cè)量前鏟除被測(cè)件觸摸面的塵埃、細(xì)屑、油脂及腐蝕產(chǎn)物等附著物，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。再有即是在進(jìn)行體系調(diào)零時(shí)，所使用的基體外表也有必要是清洗、潤(rùn)滑的。

　　2、屏幕不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)

　　簡(jiǎn)略要素即是查看電池是不是電量足夠，斷定電池電量足夠后如發(fā)現(xiàn)測(cè)量仍是不顯現(xiàn)數(shù)值，可以思考是不是有測(cè)頭及連線有松動(dòng)、斷開或觸摸不良景象、電池漏液后腐蝕儀器內(nèi)電子零部件等要素影響。在實(shí)際作業(yè)中就碰到過(guò)因測(cè)頭使用不當(dāng)被化學(xué)物品腐蝕，致使儀器不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)的景象。

　　3、測(cè)量成果差錯(cuò)大

　　探頭的放置方法對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與被測(cè)件外表堅(jiān)持筆直。而且探頭的放置時(shí)刻不宜過(guò)長(zhǎng)，避免形成基體本身磁場(chǎng)的攪擾。測(cè)量時(shí)不要拖動(dòng)探頭，由于這么不僅對(duì)探頭會(huì)形成磨損，也不會(huì)得到的測(cè)量成果。別的，基體金屬被磁化、基體金屬厚度過(guò)小、工件曲率過(guò)小、測(cè)量基座外表有銹蝕、測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)周圍有電磁場(chǎng)攪擾等要素都有也許致使測(cè)量成果的反常，假如離電磁場(chǎng)十分近時(shí)還有也許會(huì)發(fā)作死機(jī)景象。