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菲希爾系列膜厚儀

菲希爾系列膜厚儀

簡(jiǎn)要描述:

菲希爾系列膜厚儀:不但可以對(duì)鋼鐵上的多種涂層進(jìn)行檢測(cè)還可以對(duì)非鐵金屬和非導(dǎo)電基材上的涂層進(jìn)行測(cè)量。DUALSCOPE FMP20膜厚儀享譽(yù)的手提式儀器和插拔式探頭的新一代產(chǎn)品問世了,可以用來無損、高精度測(cè)量涂鍍層厚度。從我們的新產(chǎn)品系列中選擇一款含智慧型探頭的涂鍍層測(cè)厚儀可以滿足您特定的測(cè)量需求。新一代手提式儀器FMP20配上種類繁多的插拔式探頭提供的測(cè)量。

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FMP100高品質(zhì)系列膜厚儀--Fischer

菲希爾系列膜厚儀型號(hào):

DUALSCOPE FMP100

自動(dòng)識(shí)別基材,將兩種測(cè)量法相結(jié)合(磁感應(yīng)/電渦流,符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360標(biāo)準(zhǔn)),此通用型設(shè)備不僅可以對(duì)鋼鐵上的多種涂層進(jìn)行測(cè)量還可以對(duì)非鐵金屬和非導(dǎo)電基材上的涂層進(jìn)行測(cè)量。

儀器平臺(tái)應(yīng)用軟基基于MS Windows CE
顯示器明亮圖形顯示器(彩色、觸摸屏)
鍵盤/操作4個(gè)薄膜開關(guān),軟鍵盤,***多12個(gè)軟鍵
探頭連接器10針插座
通訊界面USB4(型號(hào):Mini-AB)連接打印機(jī)或PC
內(nèi)存256MB,用于應(yīng)用程式和測(cè)量數(shù)據(jù)
統(tǒng)計(jì)平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、Cp、Cpk,全部數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、直方圖、總頻率
安全機(jī)制應(yīng)用程式和系統(tǒng)密碼保護(hù),自動(dòng)儲(chǔ)存數(shù)據(jù)
數(shù)據(jù)輸出PDF格式的測(cè)量數(shù)據(jù)打印,測(cè)量數(shù)據(jù)以ASCII格式傳輸?shù)絇C
語言中文、英語、德語、法語、意大利語、西班牙語、日文
電源電池/可充電電池,或者AC適配器110/230 VAC3
尺寸/重量89×40×170(W×D×H,mm),大約395g(不包含探頭)
操作/運(yùn)輸背帶,儀器支持架(折疊式設(shè)計(jì))
操作溫度10~40℃

 

菲希爾系列膜厚儀

影響測(cè)量值的因素與解決方法
使用Fischer測(cè)厚儀與使用其他儀器一樣,既要掌握儀器性能,也需了解測(cè)試條件。使用磁性原理和渦流原理的Fischer測(cè)厚儀都是基于被測(cè)基體的電、磁特性及與探頭的距離來測(cè)量覆層厚度的,所以,被測(cè)基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測(cè)量值的可靠性,下面就這方面的問題作一下介紹。
1.邊界間距如果探頭與被測(cè)體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距,由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)?dǎo)致測(cè)量誤差。如必須測(cè)量該點(diǎn)的覆層厚度,只有預(yù)先在相同條件的無覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn),才能測(cè)量。(注:的產(chǎn)品有透過覆層校準(zhǔn)的*功能可達(dá)3~10%的精度)
2.基體表面曲率在一個(gè)平直的對(duì)比試樣上校準(zhǔn)好一個(gè)初始值,然后在測(cè)量覆層厚度后減去這個(gè)初始值?;騾⒄障聴l。
3.基體金屬zui小厚度基體金屬必須有一個(gè)給定的zui小厚度,使探頭的電磁場(chǎng)能*包容在基體金屬中,zui小厚度與測(cè)量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān),在這個(gè)厚度之上剛好可以進(jìn)行測(cè)量而不用對(duì)測(cè)量值修正。對(duì)于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響,可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷,或無法加基材則可以通過與已知覆層厚度的試樣進(jìn)行對(duì)比來確定與額定值的差值。并且在測(cè)量中考慮這點(diǎn)而對(duì)測(cè)量值作相應(yīng)的修正或參考第2條修正。而那些可以標(biāo)定的儀器通過調(diào)整旋鈕或按鍵,便可以得到準(zhǔn)確的直讀厚度值。反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測(cè)銅箔厚度的測(cè)厚儀,如前所述。
4.表面粗糙度和表面清潔度在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測(cè)量值必須進(jìn)行多次測(cè)量才行。顯而易見,不論是基體或是覆層,越粗糙,測(cè)量值越不可靠。為獲得可靠的數(shù)據(jù),基體的平均粗糙度Ra應(yīng)小于覆層厚度的5%。而對(duì)于表面雜質(zhì),則應(yīng)予去除。有的儀表上下限,以剔除那些“飛點(diǎn)”。
5.探頭測(cè)量板的作用力探頭測(cè)量時(shí)的作用力應(yīng)是恒定的。并應(yīng)盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變,以致測(cè)量值下降?;町a(chǎn)生大的波動(dòng),必要時(shí),可在兩者之間墊一層硬的,不導(dǎo)電的,具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過減去薄膜厚度就能適當(dāng)?shù)氐玫绞4拧?br />6.外界恒磁場(chǎng)、電磁場(chǎng)和基體剩磁應(yīng)該避免在有干擾作用的外界磁場(chǎng)附近進(jìn)行測(cè)量。殘存的剩磁,根據(jù)檢測(cè)器的性能可能導(dǎo)致或多或少的測(cè)量誤差,但是如結(jié)構(gòu)鋼,深沖成形鋼板等一般不會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象。
7.覆層材料中的鐵磁成份和導(dǎo)電成份覆層中存在某些鐵磁成分,如某種顏料時(shí),會(huì)對(duì)測(cè)量值產(chǎn)生影響,在這種情況下,對(duì)用作校準(zhǔn)的對(duì)比試樣覆層應(yīng)具有與被測(cè)物覆層相同的電磁特性,經(jīng)校準(zhǔn)后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上,用電渦流法測(cè)試后獲得對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)試樣。


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